標(biāo)題：測(cè)量微型元件三維輪廓立體顯微鏡廠(chǎng)商-影像測(cè)量?jī)x
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-10-21 7:42:06
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正文:
為測(cè)量微型元件三維輪廓曲面，為量測(cè)系統(tǒng)示意圖。
當(dāng)結(jié)構(gòu)光經(jīng)由立體顯微鏡縮小投射至待測(cè)物表面時(shí)，由于待測(cè)物表面起伏變化，
會(huì)使得結(jié)構(gòu)光之條紋圖案產(chǎn)生扭曲現(xiàn)象，
而此扭曲程度即代表物件輪廓資訊，由 CCD 攝影機(jī)將扭曲影像
取回，經(jīng)由影像采集卡將影像轉(zhuǎn)為數(shù)位化并傳至電腦，
透過(guò)電腦視覺(jué)方法進(jìn)行影像處理以計(jì)算出影像座標(biāo)與絕對(duì)相位，
代入映射函數(shù)所建立之?dāng)?shù)學(xué)模型便可得到待測(cè)物形貌輪廓之三維座標(biāo)
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4813.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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