標(biāo)題：觀察玉石的精細結(jié)構(gòu)合適使用體視顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-7-25 22:44:01
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正文:
觀察玉石的精細結(jié)構(gòu)合適使用體視顯微鏡
利用光子與電子的波動性，觀測物質(zhì)的精細結(jié)構(gòu)促使現(xiàn)今納米物理的發(fā)展。
雖然X射線繞射探測物質(zhì)具定量且全面性的結(jié)果，但電子更容易聚焦，
利用電子繞射的
實驗方法可以直接觀測尺度極小的微結(jié)構(gòu)。穿透式電子顯微鏡
(transmission electron microscopy,TEM)
廣泛作為研究納米科技與納米材料的儀器之一，經(jīng)由電子加速并聚
焦至樣品上，電子被樣品內(nèi)的原子散射至各角度，分析散射強度強弱的對比，
可將樣品影像呈現(xiàn)在感光螢?zāi)?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
TEM需在高真空的環(huán)境中運作，這是由于電子源經(jīng)由燈絲產(chǎn)生，施加高電壓
以加速電子。高真空環(huán)境可避免電弧的產(chǎn)生，并增加電子的平均自由徑，
減少電子在運動過程中撞擊到氣體分子的機會。電子透鏡多由電磁線圈與磁極所組成，
選擇適當(dāng)?shù)耐哥R材料（鐵磁性材料）與整體透鏡設(shè)計，利用電子與磁場間之交互作用使
電子偏折，進而聚焦或放大（分辨率可達1埃，亦即0.1納米，放大倍率可達百萬倍）
許多TEM也配置X射線能量能譜分析儀
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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