標(biāo)題：光學(xué)顯微鏡觀察樹葉表面的氣孔和葉綠體
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-7-25 17:28:32
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正文:
光學(xué)顯微鏡觀察樹葉表面的氣孔和葉綠體
探索物質(zhì)的組成與性質(zhì)，長久以來是人類為了解周圍世界的直接方法，
也帶動(dòng)科學(xué)的進(jìn)步與發(fā)展。其中普遍的探測工具之一是利用光線的透射與反射，
如光學(xué)顯微鏡可觀察到樹葉表面的氣孔與內(nèi)部的葉綠體、金屬表面的粗糙狀態(tài)及固態(tài)物質(zhì)之
斷面巖理�？梢姽獾牟ㄩL約為400至700納米，
導(dǎo)致一般光學(xué)顯微鏡能分辨細(xì)小結(jié)構(gòu)的極限約為300納米。
這是由于探測工具，如光線，僅能探測與其波長大小相當(dāng)之待測結(jié)構(gòu)，當(dāng)入射波與物
質(zhì)接觸，產(chǎn)生之繞射波紋可以分析出週期性結(jié)構(gòu)的關(guān)系
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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