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標(biāo)題:巖相顯微鏡的應(yīng)用簡介-可以觀察察鉛白的顆粒

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2013-6-2 1:20:49 將本頁加入收藏

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正文:

巖相顯微鏡的應(yīng)用簡介-可以觀察察鉛白的顆粒

偏光顯微鏡:又稱巖相顯微鏡,為透射光顯微鏡的一種,其裝置有上偏光
和下偏光,它是靠透射光的作用來研究載玻試片上的透明礦物及其相關(guān)聯(lián)
的光學(xué)顯微鏡。


實體顯微鏡:實體顯微鏡具備放大物質(zhì)元素的功能,倍數(shù)分為 8X、16X、
32X、40X、64X、80X 等。

將畫心上鉛白變黑時與清洗處理后的變
化,透過實體顯微鏡可觀察鉛白的顆粒變化情形。


X 光:鉛白比其它白色顏料更具有高度的遮蓋力,因此藉由 X 射線的穿透
力強度,照射檢驗鉛白具有不被穿透而呈現(xiàn)不透明性的白度。這也是鉛被
拿來制作成防 X 光用的鉛板與鉛衣的另一項功能










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