標(biāo)題：電子顯微鏡來統(tǒng)計(jì)金屬材料的粒徑非常方便
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-5-21 20:44:50
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正文:
使用原子力或是電子顯微鏡來統(tǒng)計(jì)材料之粒徑，為一個(gè)十分直接的方法。然而取樣數(shù)目則需十分大
量方能接近實(shí)際的材料狀況。同時(shí)由于觀測(cè)到的顆粒大小，十分容易受到備制顯微鏡樣品的方法的影
響。因此最好能配合 x 光繞射施瑞爾 - 威爾森的分
析方法，以得到較為接近的數(shù)據(jù)。
對(duì)于納米超導(dǎo)金屬的一些物理量的量測(cè)，首先可以針對(duì)針對(duì)一系列已分析確認(rèn)為純相，并具有粒徑
分佈較窄的不同平均粒徑的納米鉛，進(jìn)行電阻、比熱的量測(cè)
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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