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標(biāo)題：表面結(jié)構(gòu)分析光學(xué)顯微鏡廠家-微區(qū)元素分析儀器

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表面結(jié)構(gòu)分析光學(xué)顯微鏡廠家-微區(qū)元素分析儀器

目前最普遍使用的材料分析技術(shù)。在表面結(jié)構(gòu)分析方面，除了光學(xué)顯微鏡外，使用率最高的首推掃描式電子顯微鏡(SEM)，

但因?yàn)槌叨瘸掷m(xù)縮小至奈米以下，

需要更高倍率以及高解析度的材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)影像分析，所以近年來(lái)穿透式電子顯微鏡(TEM)也佔(zhàn)有很重要的位置。而在微區(qū)成分分析的部分，

X光能譜分析儀除了其在化學(xué)元素分析上具備簡(jiǎn)便且容易操作的優(yōu)點(diǎn)，

又可搭配附加于掃描式或穿透式電子顯微鏡的便利性，自然是微區(qū)元素分析儀器的首選。

不過(guò)，若分析如金屬矽化物等需作材料內(nèi)部不同晶格結(jié)構(gòu)測(cè)定分析，還是必須藉由穿透式電子顯微鏡的電子繞射技術(shù)(electron diffraction)或是X光繞射分析儀(XRD)，

才可以獲得深入且完整的分析。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

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