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標題:晶片封裝品質檢測三維立體顯微鏡, 厚膜導體和絕緣材料

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2013-4-13 9:34:14 將本頁加入收藏

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正文:

晶片封裝品質檢測三維立體顯微鏡


晶片(Chip)

個別的半導體元件或積體電路,是在完成的半導體晶圓切割或分開后,尚未貼附引腳或封裝前。

晶片承載器(Chip Carrier)
一種積體電路構裝,通常是方形的,中心處有凹穴容納晶片,其界面接合通常在四周。

晶片直接組于電路板(Chip-on-Board,COB)
晶片直接黏著在印刷電路板或基板上的一種結構。

熱膨脹系數(shù)(Coefficient of Thermal Expansion,CTE)
原始長度在單位溫度變化內(nèi),尺寸上的改變比值,通常以 cm/cm 表示。

Coffin-Manson 方程式
常用來描述應變幅度與疲勞壽命的關系;旧洗说仁綌⑹鍪堑焦收习l(fā)生時的循環(huán)數(shù)與應變平
方的倒數(shù)值,有比例上的關系。在可靠性的測試時,可用來預測現(xiàn)場的使用壽命,
基于在實驗室中的加速溫度循環(huán)實驗。


共燒(Cofiring)
(1) 兩個厚膜組成,一個印刷及乾燥后在印刷另外一個及乾燥,然后同時燒結之制程。
(2) 厚膜導體和絕緣材料在同時間進行燒結,形成多層結構之制程。











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