標(biāo)題：三坐標(biāo)接觸式測(cè)量?jī)x測(cè)量尺寸優(yōu)點(diǎn)-工具顯微鏡廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-2-3 10:46:04
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正文:
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)頭
使用三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x進(jìn)行尺寸測(cè)量時(shí)，測(cè)頭可說(shuō)是最重要的部份之一。
在測(cè)量的過(guò)程中，使用不同種類的測(cè)頭，會(huì)直接影響到測(cè)量精度與測(cè)量所需的時(shí)間。
以下就三坐標(biāo)測(cè)頭與測(cè)量表面交互作用的關(guān)系，將測(cè)頭分為兩類，簡(jiǎn)單介紹
接觸式測(cè)頭
接觸式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（Coordinate Measuring Machine，CMM），作動(dòng)方式是利用一個(gè)可以作多方向感測(cè)的電子式測(cè)頭座，
沿著三軸的移動(dòng)來(lái)測(cè)量。測(cè)量時(shí)，當(dāng)測(cè)頭與工件表面碰觸，達(dá)到特定壓力時(shí)即可觸發(fā)信號(hào)，
擷取測(cè)頭的X、Y、Z方向相對(duì)基準(zhǔn)點(diǎn)的座標(biāo)。經(jīng)由電腦計(jì)算處理，可得到測(cè)頭與真實(shí)尺寸的關(guān)系，
進(jìn)而紀(jì)錄點(diǎn)資料作為后續(xù)逆向工程或相關(guān)工作使用。接觸式測(cè)頭測(cè)量?jī)?yōu)缺點(diǎn)如下：
優(yōu)點(diǎn)：
(1).測(cè)量精度高。
(2).可測(cè)量范圍廣。
(3).使用者可決定測(cè)量位置。
(4).可同時(shí)測(cè)量規(guī)則幾何特征，及不規(guī)則曲面點(diǎn)資料。
(5).較易解決測(cè)量定位的問(wèn)題。
(6).測(cè)量測(cè)頭可旋轉(zhuǎn)，較易測(cè)量3D工件。
(7).一般所得到的點(diǎn)資料雖然少于非接觸式測(cè)量方式，但所得到的點(diǎn)資料可直接用來(lái)建構(gòu)曲面。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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