標題：粉體顆粒結構及晶粒尺寸量測專業(yè)檢測金相顯微鏡廠商
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-1-10 23:51:42
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正文:
晶粒尺寸量測專業(yè)檢測金相顯微鏡廠商
服務項目：
塊材、薄膜、粉體等微觀組織、結構影像觀察及成份分析。
陰極發(fā)光材料影像分析、光譜量測。
多晶材料結晶取向、織構及晶粒尺寸量測。
特別注意事項：
樣品或試片準備需知：
固態(tài)材料，須乾燥，真空中不具揮發(fā)性，電子束照射不會分解或揮發(fā)。
試片大�。褐睆建Q 2.5 cm，厚度≦1 cm。
掃描電容顯微術的建立
在電性掃描探針顯微鏡的領域中，以掃描電容顯微鏡的技術難度最高，
然因掃描電容顯微鏡具備二維載子濃度分析的優(yōu)異能力，載子濃度分布對雙極性場效電晶體 (BJT) 及MOSFET等
元件的運作效能及電性均具有決定性的影響，若能精確得知載子濃度的二維分布輪廓，
對元件的設計與特性分析將有莫大助益。由于掃描電容顯微鏡在功能上符合電子產(chǎn)業(yè)的立即性需求且應用層面廣泛，
故早期在電性掃描探針顯微鏡技術的發(fā)展
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
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