標(biāo)題：微量電子天平可以測得微小元件的重量-便攜金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-1-6 23:12:50
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正文:
微量電子天平可以測得微小元件的重量
微量天平
微量電子天平可以測得微小元件的重量, 其精確度到達0.0001g。
微推拉力機
利用推刀將錫球做剪力破壞, 以推刀的位移和作用力關(guān)系圖判斷破壞模式
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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