標(biāo)題：SPM在納米上的廣泛應(yīng)用！最好的國產(chǎn)金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2012-5-9 1:20:54
將本頁加入收藏
下一篇：細(xì)胞的冷凍與解凍？購買一臺細(xì)胞觀察的顯微鏡！哪家最好？
上一篇：SPM的特色試片的處理并不像其它電子顯微鏡復(fù)雜
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價--丨--
---
---
---
正文:
SPM的缺點(diǎn)就是不能應(yīng)用在高度差距過大的試片上，接觸式的探針雖然有較高的解析度，但極易耗損，另外SPM只能觀察物體的表面形貌，無法像電子顯微鏡那樣可以穿透到試片里，
獲取試片內(nèi)部訊息，但不管如何，SPM在納米上的廣泛應(yīng)用已逐漸使其深受重用，
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/2936.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商