標題：SPM在納米上的廣泛應(yīng)用！最好的國產(chǎn)金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2012-5-9 1:20:54
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正文:
SPM的缺點就是不能應(yīng)用在高度差距過大的試片上，接觸式的探針雖然有較高的解析度，但極易耗損，另外SPM只能觀察物體的表面形貌，無法像電子顯微鏡那樣可以穿透到試片里，
獲取試片內(nèi)部訊息，但不管如何，SPM在納米上的廣泛應(yīng)用已逐漸使其深受重用，
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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