標題：實驗巖樣孔隙度計量分析圖像顯微鏡廠家
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2019-9-14 4:24:27
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正文:
實驗巖樣孔隙度計量分析圖像顯微鏡廠家
產生于用巖樣分開的兩種自由溶液間的擴散—吸附電位值f腳(薄膜電
位)，既與巖石吸附性質有關，又與巖樣內和兩種溶液內，尤其是巖樣表面
層內水的礦化度有關。薄膜電位等于在巖樣表面層處平衡濃度為；
當各向同性、滲透性差的巖樣與外部溶液接觸時間較長時，巖樣表面
層與這些溶液達到平衡狀態(tài)。在這種悄況下(如果擴散電動勢是勢函數(shù))，
薄膜電位置。哪用濃度為云ol和云02．測定的巖樣擴散—吸附電位差表示
，并與巖樣孔隙內水的礦化度無關(標準薄膜電位)。
當巖樣表面層與其接觸溶液不平衡時，巖樣飽和水礦化度及其滲透率
越高廠L值越是接近兩種溶液間的擴散電動勢。對于巖樣飽和溶液礦化度不
同及巖樣與外部溶液向濃度降分布刁；同的情況，Z-與濃度的理論關系和B
．1，．達哈諾夫(21)、X．勒和H．米勒別爾(s9)，H．E．埃德曼C72)等獲
得的類似實驗關系式是一致的。
在被酸性和中性溶液飽和的巖石內，由于氫離子被大量吸附，而使pH
．值降低，巖石擴散—吸附活度則隨pH．值的降低而嚴重下降。
為確定標準薄膜電位，應使用pH＝9+“的溶液，并用兩種接觸溶液中
較淡的溶液飽和巖樣(在不斷更換溶液條件下進行)．在所測電動勢隨時間
變化的情況下，它的極限值是Z腳的最可靠值，在測量至。值時， 建議不
要使用泥漿。
當擴散電動勢為勢函數(shù)及地層表面層與井液處于平衡狀態(tài)時，
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科