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正文:

請問有關(guān)結(jié)晶非結(jié)晶與材料的孔隙問題（偏光顯微鏡）

請問一些問題：

1.假如懷疑一材料同時含有結(jié)晶與非結(jié)晶的區(qū)域，我們該如何証明此假設(shè)呢~!?(用xrd儀器測試或是做實驗嗎~!??)

2.假如我們懷疑一材料含有很多的大孔隙(voids)，我們該如何証明此假設(shè)呢~!?

對我來說很重要的問題，

北京上光儀器回答：

1.
a.如果該材料可以制成膜,用偏光顯微鏡就可以分出結(jié)晶與非結(jié)晶了

雖然說偏光顯微鏡也有反射光的方法,能不能與穿透式具有相同作用,筆者不清楚

b.如果是金屬類,我想TEM應(yīng)該會是最好的選擇,高分子的話也可以,不過制作樣品的手續(xù)比較麻煩就是了

2.a.BET儀應(yīng)該可以

b.SEM也行,但是僅限表面,如果孔隙在裡面,就把他切開吧

c.有位大大提到超音波

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科