標題：常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒測量
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2017-7-25 19:19:04
將本頁加入收藏
下一篇：陶瓷基復合材料微粒直徑分析圖像顯微鏡廠家
上一篇：微觀力學和宏觀力學研究纖維復合材料顯微鏡
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒測量
微粒MMC
作為結構材料，它們廣泛地應用于航空航天領域。在這些材料中，
通常用微米量級的碳化硅或氧化鋁陶瓷微粒，來增強鋁或鈦合金的基體
。由于其增強體不像纖維增強的MMC那樣具有方向性，其性能基本是各
向同性的。鋁碳化硅微粒MMC(AI／SiC。，此處下標P指微粒)的比剛度
，在微粒體積含量為20％時比常規(guī)鋁合金超出50％。作為比較，在相似
纖維體積含量時，包含碳化硅纖維的MMC將使比剛度增加約100％。
其主要制造技術是快速液態(tài)金屬工藝，如擠壓鑄造或以熱加壓為基
礎的固態(tài)粉末過程。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/10090.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應商